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24 juin 2010 de 09H à 18H
ISIS: Thème B - Image et Vision
organise
B : Contrôle Métrologique par Vision
REUNION REPORTEE - REUNION REPORTEE
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Organisateurs
SLIWA TadeuszHENNEBELLE FrancoisORTEU Jean-José
Annonce

ATTENTION REUNION REPORTEE

Journée GdR ISIS-Club EEA "Contrôle Métrologique par Vision", avec le patronage du club CMOI.

La métrologie par vision est en plein essor depuis de nombreuses années. Par vision, est entendu ici tout dispositif incluant un capteur image. Il existe aujourd’hui de nombreux dispositifs et méthodes permettant d’acquérir la position, la taille, les paramètres de forme et d’états de surface. Néanmoins, tandis que le contrôle qualité par vision artificielle a atteint une certaine maturité et s’intègre sur de nombreuses lignes de productions, il n’en est pas de même pour le contrôle métrologique par vision. L’objectif de cette journée est tout d’abord de cerner l’aspect normalisation et spécification relatifs aux besoins industriels, indissociables de la métrologie par vision, puis d’aborder divers types de mesures différentes fréquemment rencontrées : la mesure de forme, la mesure d’états de surface et la mesure de profondeur. Pour cette journée, nous souhaiterions mettre en place des complémentarités avec la communauté mécanique qui joue par ailleurs un rôle applicatif important au niveau normes et pratiques métrologiques actuelles.

Comité d'organisation :
- Tadeusz SLIWA*, François HENNEBELLE et Yvon VOISIN, Le2i, Université de Bourgogne.
- Jean-José ORTEU, Institut Clément Ader, Mines d’Albi.

*contact principal : si vous souhaitez intervenir, merci de transmettre vos propositions à tadeusz.sliwa@u-bourgogne.fr, de préférence avant le 1er mai 2010.


Programme

9h00 Accueil et présentation

1) Normalisation et spécification
Actuellement, il n’est pas prévu de développer l’aspect normalisation des mesures optiques car les incertitudes ne sont pas encore bien maîtrisées. Cette session tentera de préciser cette limitation afin d’envisager le développement de techniques satisfaisantes.

09h15-09h45 F. HENNEBELLE, Le2i : Normalisation en métrologie par vision
09h45-10h15 T. COOREVITS, Arts et Métiers ParisTech, CNRS 8107, LML : L’évaluation des incertitudes de mesure
10h15-10h45 C. VERNEY, CETIM : Besoin des industriels en avancées par vision
10h45-11h00 Pause

2) Mesure de forme
La mesure de forme par vision est tributaire des spécifications fonctionnelles des formes, des méthodes d’acquisition des mesures et d’évaluation des défauts. Cette session a donc pour objectif de rationaliser les processus d’acquisition et de traitement.

11h00-11h30 J.-J. ORTEU, Institut Clément Ader, Mines d’Albi : Mesure de formes par corrélation multi-images
11h30-12h30 Soumissions 1 et 2
12h30-14h00 Pause déjeuner

3) Etats de surface
La culture présente en métrologie en ce qui concerne les états de surface diffère sensiblement de celle utilisée par les communautés signal/image. Le but de cette session est de montrer l’intérêt de la vision artificielle pour cette problématique.

14h00-14h30 M. KHOUDEIR, SIC, U. Poitiers : Relief de surface, texture 3D et rugosité
14h30-15h00 C. GERMAIN, IMS, U. Bordeaux : Critères d'homogénéité et mesures d'incertitude en analyse d'images texturées. Application à la caractérisation de matériaux
15h00-15h30 Soumission 3
15h30-15h45 Pause

4) Mesure de la profondeur à partir des images
15h45-16h15 XXX : Robotique et mesure de la profondeur à partir des images
16h15-17h15 Soumissions 4 et 5

17h15 Bilan et conclusion de la journée

Participants (50 prévus dont 6 inscrits) :
BLANCHARD Cedric LE2I
DELCOURT Jonathan LE2I
MASSON-SIBUT Agnès Labo Images, Signaux et Systèmes Intelligents
ORTEU Jean-José Équipe Vision et Thermographie
SLIWA Tadeusz LE2I
VOISIN Yvon LE2I

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